在半导体晶圆缺陷模式识别系统识别NextTechs技术

这种技术开发半导体晶片检查和识别缺陷和功能纳米技术范围。然而,传感器、算法、神经网络系统,光学和相机技术可用于各种各样的应用程序。无论人类的眼睛可以用来识别和分类的图像,有申请这个模式识别技术。

模式识别方法在半导体晶圆缺陷识别

模式识别系统包含了判别分析,特征提取,误差估计,聚类分析(有时称为统计模式识别)一起,语法推断和解析(有时称为句法模式识别)。它可以集成到任何需要识别的过程有缺陷的产品或组件,

应用模式识别系统

图像模式识别技术的重要应用领域分析、字符识别、语音分析、人/机诊断、识别和工业检验。也有广泛的应用在产品制造、纳米技术、医疗设备、诊断方法、交通控制等。

模式识别专利摘要

所有者持有大量的美国投资组合、日本和其他专利申请。超过30项美国专利相关模式识别的各个方面。这个专利是对指定独家授权在一定领域的使用。

来源:NextTechs技术

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