Bruker的NPFlex™3D表面计量系统提供了高灵活性，测量功能，以及精密制造业的优越性，可确保快速增速，优异的产品质量和提高生产率。
NPFlex是大型仪器设计和白光干涉（WLI）技术的数十年的专业知识的结果。
NPFlex是第一光学计量系统，设计用于处理纳米至宏观特性，方便地在不同形状和尺寸的样本上。
它提供3D，数据丰富，优异的分辨率和一致性，超出了接触仪器的可能性，所有这些都提供了对功能性和部分性能的良好洞察力。
主要特征
npflex的关键特征是：
- 开放式采样加载，非接触技术和直观分析软件，以表征表面纹理，完成，粗糙度，曲率，斜率和具有子微米分辨率的其他几个特征
- 坚固，高性能平台为制造环境开发
- 高度可配置的硬件和软件，以满足几乎任何样品形状或大小的测量需求
- 完全可定制的应用程序和自动化程序，用于生产线上的速度
- NPFlex System提供可用于表面特征的最全面的计量平台，提供样本尺寸，访问样本区域和测量环境的最终灵活性。
关键应用
NPFlex系统的应用是：
- 过程开发
- 生产
- 质量分析
- 产品研发
- 石油运输和精炼
- 汽车和航空航天
- 医疗的
- 主要金属制造业
- 制造金属产品
- 其他制造业