Sonix，Inc。

SONIX™生产和市场2种主要产品线 - 扫描声学显微镜（SAM）和非破坏性成像系统（NDT）。扫描声显微镜为半导体制造商提供了一种最先进的，无损成像工具。这些系统提供了高分辨率图像和高级诊断工具，用于非破坏性验证可靠性，合格新的软件包设计，监视生产采样，查明设备故障并改善过程控制。我们的超声成像系统进行了多种材料分析，包括对空隙，包含和均匀性的体积分析，以及厚度，密度，速度映射和声学阻抗测量。